【摘要】
激光打標機在隨著(zhù)激光標刻技術(shù)發(fā)展的成熟，激光標刻被普遍用作產(chǎn)品的圖文加工手段，激光打標機被迅速地運用于需要標記的各種工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)中。
激光打標機在隨著(zhù)激光標刻技術(shù)發(fā)展的成熟，激光標刻被普遍用作產(chǎn)品的圖文加工手段，激光打標機被迅速地運用于需要標記的各種工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)中。隨著(zhù)對產(chǎn)品質(zhì)量要求不斷地提高，在工業(yè)生產(chǎn)運用中對激光標刻質(zhì)量的要求也在不斷地提高，使得在線(xiàn)打標檢測的需求也在日益增加。運用視檢系統對激光打標產(chǎn)品的檢測提出了更高的要求。因此，對于激光打標及視檢系統研究和開(kāi)發(fā)具有巨大的發(fā)展潛力和廣闊的市場(chǎng)前景。
我們這里要說(shuō)得主要是利用半導體封裝生產(chǎn)中的QUICKMARKTM激光打標機與SRM編帶機分析在實(shí)時(shí)生產(chǎn)時(shí)出現的打標字符變形和打標殘缺等標記質(zhì)量問(wèn)題，以及打標參數的設定對標記質(zhì)量的影響，針對激光打標的視檢系統二進(jìn)制化圖像分析檢測激光打標的質(zhì)量，在獲得激光打標的灰度圖像信息后,主要利用視檢系統的二進(jìn)制化圖像界限值確定閥值分析相關(guān)參數設定來(lái)衡量標記的質(zhì)量，并優(yōu)化打標工藝參數和視檢工藝參數。通過(guò)對實(shí)驗結果進(jìn)行討論分析，觀(guān)察并記錄實(shí)際工作測試情況 并與理論計算結果進(jìn)行比較，分析偏差存在的原因。并與前人的實(shí)驗結果進(jìn)行比較，發(fā)現課題中理論和實(shí)驗研究中的不足和缺點(diǎn)，為以后的研究打下基礎。 通過(guò)本次研究，建立更加貼合實(shí)際的激光打標參數及質(zhì)量評估標準參數，為激光打標機的打標系統在半導體生產(chǎn)過(guò)程中參數設置提供可靠參考，對半導體封裝生產(chǎn)中IC表面文字圖案標記和檢測有一定的參考價(jià)值。
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